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產品(pin)詳細頁(ye)手持(chi)式(shi)熒光光(guang)譜(pu)儀(yi)
簡(jian)要描述(shu):手(shou)持式(shi)熒光光(guang)譜(pu)儀(yi)非常堅固耐用(yong),可(ke)以在極(ji)為(wei)惡(e)劣(lie)的(de)環(huan)境(jing)中完(wan)成分(fen)析要求(qiu)很高的(de)應(ying)用(yong)。可(ke)以用(yong)來(lai)對(dui)各種不同類型(xing)的礦(kuang)石進(jin)行現場(chang)分析。
產品(pin)型(xing)號(hao):XRF-SK1
廠商性(xing)質:生產(chan)廠家(jia)
更(geng)新時間(jian):2025-08-26
訪 問(wen) 量:487
產(chan)品介(jie)紹

產品(pin)簡(jian)介:
手(shou)持式熒光光(guang)譜(pu)儀(yi)非常堅固耐用(yong),可(ke)以在極(ji)為(wei)惡(e)劣(lie)的(de)環(huan)境(jing)中完(wan)成分(fen)析要求(qiu)高的應用(yong)。可(ke)以用(yong)來(lai)對(dui)各種不同類型(xing)的礦(kuang)石進(jin)行現場(chang)分析。通過(guo)現場(chang)測(ce)試的成(cheng)熟的X射(she)線(xian)管(guan)分析系(xi)統,無(wu)輻(fu)射(she)性(xing)同位(wei)素(su),現場(chang)分析時能(neng)做(zuo)出快(kuai)速(su)而全面(mian)的(de)礦(kuang)石類(lei)型(xing)研究,對樣(yang)品要求(qiu)低(di),但是測(ce)試結(jie)果(guo)準確,能(neng)準確分(fen)析高濃度樣(yang)品,避免(mian)了驗(yan)證(zheng)性(xing)的實驗(yan)室(shi)測(ce)試。可(ke)對各種礦(kuang)石進(jin)行多(duo)元素(su)分(fen)析,廣(guang)泛應(ying)用(yong)於(yu)礦(kuang)業、地質(zhi)、土壤環(huan)境(jing)、底(di)泥、沈積(ji)物(wu)中的有色金(jin)屬元素(su)的(de)快速(su)分析測(ce)定(ding),還應(ying)用(yong)於(yu)礦(kuang)渣精(jing)煉(lian)分(fen)析及考(kao)古研(yan)究。包(bao)括金(jin)礦(kuang)、銀礦(kuang)、銅礦(kuang)、鐵礦(kuang)、錫(xi)礦(kuang)、鋅礦(kuang)、鎳礦(kuang)、鉬(mu)礦(kuang)、銥礦(kuang)、砷礦(kuang)、鉛(qian)礦(kuang)、鈦礦(kuang)、銻礦(kuang)、錳礦(kuang)、釩礦(kuang)、碘(dian)礦(kuang)、硫(liu)礦(kuang)、鉀礦(kuang)、磷礦(kuang)、鈾礦(kuang)等(deng)從(cong)磷(lin)到鈾的所(suo)有(you)自然礦(kuang)石、礦(kuang)渣、巖(yan)石(shi)、泥土、泥漿。被檢(jian)測(ce)的(de)樣(yang)品可(ke)以是固體、液(ye)體(ti)、粉塵、粉(fen)末(mo)、實心(xin)體、碎(sui)片(pian)、過(guo)濾(lv)物(wu)質(zhi)、薄(bo)膜層(ceng)等(deng)有(you)形(xing)物(wu)體(ti)。手(shou)持式(shi)熒光光(guang)譜(pu)儀(yi)
地礦(kuang)行業(ye)應用(yong)優勢:
1、檢(jian)測(ce)元素(su):標(biao)準配置可(ke)檢(jian)測(ce)30多(duo)種元素(su),同時可(ke)按客(ke)戶需求(qiu)增(zeng)加檢(jian)測(ce)元素(su)
2、專業性(xing):礦(kuang)石專用(yong)版(ban)分(fen)析軟(ruan)件(jian),采用(yong)智能(neng)壹鍵(jian)測(ce)試
3、個(ge)性(xing)化定制工作模式:多(duo)種礦(kuang)樣(yang)模式選擇(ze)和無限數目模式的自由添(tian)加,根(gen)據客(ke)戶需求(qiu)定制工作模式。
4、充(chong)分挖掘(jue)礦(kuang)山(shan)價(jia)值(zhi):高清攝(she)像頭,可(ke)對被檢(jian)測(ce)的(de)礦(kuang)脈或(huo)礦(kuang)點部位(wei)進(jin)行更(geng)直觀的(de)觀察(cha),並(bing)對(dui)開(kai)采過程(cheng)進(jin)行精(jing)確管(guan)理(li)和控制,隨時檢(jian)測(ce)礦(kuang)石品(pin)位(wei)。
5、對(dui)選礦(kuang)過程(cheng)中原(yuan)礦(kuang)、精礦(kuang)和尾(wei)礦(kuang)等(deng)進(jin)行精(jing)確快(kuai)速(su)分析,為礦(kuang)石品(pin)位(wei)的(de)測(ce)定(ding)、礦(kuang)物(wu)貿易(yi)、加工以及再(zai)利用(yong)提供(gong)價(jia)值判(pan)定依(yi)據。
6、環(huan)境(jing)監控:對開采礦(kuang)山(shan)周(zhou)圍(wei)土壤中的重金(jin)屬進(jin)行監測(ce)和(he)檢(jian)測(ce),評(ping)估礦(kuang)山(shan)環(huan)境(jing)的(de)修(xiu)復(fu)情況,最(zui)大限度的(de)監測(ce)好(hao)礦(kuang)山(shan)周(zhou)邊(bian)的(de)環(huan)境(jing)。
技(ji)術參(can)數(shu):
1、檢(jian)測(ce)元素(su):可(ke)用(yong)於(yu)礦(kuang)石、土(tu)壤環(huan)境(jing)中金(jin)屬元素(su),Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等(deng)元素(su)。
2、探(tan)測(ce)器(qi):美(mei)國(guo)Moxtek Si-pin(6 mm2)、美(mei)國(guo)Amptek Si-pin(25 mm2)、德(de)國(guo)KETEK SDD探(tan)測(ce)器(qi);
3、激(ji)發源(yuan):大功(gong)率(lv)微(wei)型(xing)直板X射線(xian)管(guan),W靶(ba)材,4W大功(gong)率(lv)X射線(xian)管(guan),管(guan)電壓(ya)50KV,管(guan)電流(liu)最(zui)大可(ke)達100μA;
4、采用(yong)KMX技術(shu),更(geng)高X射(she)線(xian)計數(shu)率(lv),超低(di)電子(zi)噪(zao)聲設(she)計。每次測(ce)試前,不(bu)需要外部標(biao)樣(yang),自動能(neng)量校準核(he)查;
5、濾(lv)光片:配置8個(ge)濾(lv)光片,可(ke)根(gen)據測(ce)試元素(su)自(zi)動切換;
6、測(ce)試方法:基(ji)本參(can)數(shu)法,支持經驗(yan)系(xi)數法修(xiu)正;
7、點觸(chu)或扣動扳(ban)機(ji)控(kong)制測(ce)試開始(shi),測(ce)試過程(cheng)無(wu)需長扣扳(ban)機(ji)。根(gen)據客(ke)戶需求(qiu),也可(ke)以壹直(zhi)按著扳(ban)機(ji)測(ce)試樣(yang)品。
8、操作(zuo)系(xi)統:Window CE 6.0操作(zuo)系(xi)統,安(an)全、放(fang)心(xin);
9、自診(zhen)斷功(gong)能(neng):儀器(qi)可(ke)自動對硬件、軟(ruan)件(jian)、網絡、電(dian)池(chi)等(deng)進(jin)行診(zhen)斷,並(bing)會(hui)生(sheng)成日(ri)誌(zhi),便於(yu)快速(su)排(pai)查(zha)出故障(zhang);
10、標(biao)配模式:礦(kuang)石模式;選配模式:合金(jin)分析模式、土壤分(fen)析模式。
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