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產品(pin)詳(xiang)細(xi)頁(ye)便(bian)攜式(shi)礦(kuang)石(shi)分(fen)析儀
簡(jian)要描述:便(bian)攜式(shi)礦(kuang)石(shi)分(fen)析儀非常(chang)堅固(gu)耐(nai)用(yong),可(ke)以(yi)在(zai)極為(wei)惡(e)劣(lie)的環(huan)境中(zhong)完成分析要求很(hen)高的應用(yong)。可(ke)以(yi)用(yong)來(lai)對各種(zhong)不(bu)同類(lei)型的礦(kuang)石(shi)進(jin)行現(xian)場分(fen)析(xi)。
產(chan)品型號:XRF-SK1
廠(chang)商性質(zhi):生產廠(chang)家(jia)
更(geng)新時間(jian):2025-08-26
訪(fang) 問(wen) 量:459
產(chan)品介紹(shao)


產(chan)品(pin)簡(jian)介:
便(bian)攜式(shi)礦(kuang)石(shi)分(fen)析儀非常(chang)堅固(gu)耐(nai)用(yong),可(ke)以(yi)在(zai)極為(wei)惡(e)劣(lie)的環(huan)境中(zhong)完成分析要求高的應用(yong)。可(ke)以(yi)用(yong)來(lai)對各種(zhong)不(bu)同類(lei)型的礦(kuang)石(shi)進(jin)行現(xian)場分(fen)析(xi)。通(tong)過(guo)現(xian)場測試的成熟(shu)的X射線(xian)管(guan)分(fen)析系(xi)統(tong),無(wu)輻(fu)射(she)性同位(wei)素,現(xian)場分(fen)析(xi)時能(neng)做(zuo)出(chu)快速(su)而(er)全(quan)面的礦(kuang)石(shi)類(lei)型研究(jiu),對樣(yang)品(pin)要求低,但是(shi)測試結(jie)果準確(que),能(neng)準確(que)分析(xi)高濃(nong)度(du)樣(yang)品(pin),避(bi)免了驗(yan)證(zheng)性(xing)的實驗(yan)室(shi)測試。可(ke)對各種(zhong)礦(kuang)石(shi)進(jin)行多元(yuan)素分析,廣泛(fan)應用(yong)於礦(kuang)業、地(di)質(zhi)、土壤環(huan)境、底(di)泥(ni)、沈積(ji)物(wu)中(zhong)的有色金(jin)屬元(yuan)素的快速(su)分(fen)析(xi)測定,還應(ying)用(yong)於礦(kuang)渣(zha)精煉(lian)分析及(ji)考古研究(jiu)。包括(kuo)金(jin)礦(kuang)、銀礦(kuang)、銅礦(kuang)、鐵礦(kuang)、錫礦(kuang)、鋅礦(kuang)、鎳(nie)礦(kuang)、鉬礦(kuang)、銥礦(kuang)、砷(shen)礦(kuang)、鉛(qian)礦(kuang)、鈦礦(kuang)、銻礦(kuang)、錳礦(kuang)、釩(fan)礦(kuang)、碘礦(kuang)、硫(liu)礦(kuang)、鉀礦(kuang)、磷礦(kuang)、鈾礦(kuang)等從磷到鈾(you)的所有自(zi)然(ran)礦(kuang)石(shi)、礦(kuang)渣(zha)、巖(yan)石(shi)、泥(ni)土、泥(ni)漿。被檢測的樣(yang)品(pin)可(ke)以(yi)是(shi)固體、液(ye)體、粉(fen)塵(chen)、粉末(mo)、實(shi)心(xin)體、碎片、過(guo)濾物(wu)質(zhi)、薄(bo)膜層等有形(xing)物(wu)體。便(bian)攜式(shi)礦(kuang)石(shi)分(fen)析儀
地(di)礦(kuang)行業應(ying)用(yong)優勢:
1、檢測元(yuan)素:標(biao)準配(pei)置(zhi)可(ke)檢測30多種(zhong)元(yuan)素,同時可(ke)按客戶(hu)需求增加(jia)檢測元(yuan)素
2、專(zhuan)業性(xing):礦(kuang)石(shi)專(zhuan)用(yong)版(ban)分析(xi)軟(ruan)件(jian),采(cai)用(yong)智(zhi)能(neng)壹鍵(jian)測試
3、個(ge)性(xing)化定制工(gong)作(zuo)模式:多種(zhong)礦(kuang)樣(yang)模(mo)式選(xuan)擇(ze)和(he)無(wu)限數(shu)目模式的自由添(tian)加,根(gen)據客戶(hu)需求定制工(gong)作(zuo)模式。
4、充(chong)分挖(wa)掘(jue)礦(kuang)山價值:高清攝(she)像頭(tou),可(ke)對被檢測的礦(kuang)脈或礦(kuang)點部位進行更(geng)直(zhi)觀的觀察(cha),並對開采(cai)過(guo)程(cheng)進行精確(que)管(guan)理(li)和(he)控(kong)制,隨時檢測礦(kuang)石(shi)品(pin)位。
5、對選礦(kuang)過(guo)程(cheng)中(zhong)原礦(kuang)、精礦(kuang)和(he)尾(wei)礦(kuang)等進行精確(que)快速(su)分(fen)析(xi),為(wei)礦(kuang)石(shi)品(pin)位的測定、礦(kuang)物(wu)貿易(yi)、加工(gong)以(yi)及(ji)再(zai)利用(yong)提(ti)供(gong)價值判(pan)定依(yi)據。
6、環(huan)境監控:對開采(cai)礦(kuang)山周圍(wei)土壤中(zhong)的重(zhong)金(jin)屬(shu)進行監測和(he)檢測,評估(gu)礦(kuang)山環(huan)境的修(xiu)復情(qing)況,最大(da)限度(du)的監測好礦(kuang)山周邊(bian)的環(huan)境。
技(ji)術(shu)參數(shu):
1、檢測元(yuan)素:可(ke)用(yong)於礦(kuang)石(shi)、土壤環(huan)境中(zhong)金屬(shu)元(yuan)素,Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元(yuan)素。
2、探(tan)測器:美國(guo)Moxtek Si-pin(6 mm2)、美國(guo)Amptek Si-pin(25 mm2)、德國(guo)KETEK SDD探(tan)測器;
3、激(ji)發源:大(da)功(gong)率微(wei)型直(zhi)板X射(she)線(xian)管(guan),W靶材(cai),4W大(da)功(gong)率X射(she)線(xian)管(guan),管(guan)電壓(ya)50KV,管(guan)電流(liu)最大(da)可(ke)達100μA;
4、采用(yong)KMX技(ji)術(shu),更(geng)高X射線計數(shu)率,超低電子(zi)噪聲(sheng)設(she)計(ji)。每(mei)次(ci)測試前,不(bu)需要外部標(biao)樣(yang),自(zi)動能(neng)量校準核(he)查(zha);
5、濾光片:配(pei)置(zhi)8個(ge)濾光片,可(ke)根(gen)據測試元(yuan)素自動切換;
6、測試方(fang)法(fa):基(ji)本參(can)數(shu)法(fa),支持(chi)經驗(yan)系數法(fa)修(xiu)正;
7、點觸(chu)或扣(kou)動扳(ban)機(ji)控制測試開(kai)始(shi),測試過(guo)程(cheng)無需(xu)長(chang)扣(kou)扳機(ji)。根(gen)據客戶(hu)需求,也(ye)可(ke)以(yi)壹直(zhi)按著扳機(ji)測試樣(yang)品(pin)。
8、操作(zuo)系統:Window CE 6.0操作(zuo)系統,安全(quan)、放(fang)心(xin);
9、自診斷(duan)功(gong)能(neng):儀器可(ke)自(zi)動對硬件(jian)、軟(ruan)件(jian)、網(wang)絡、電池(chi)等進(jin)行診斷(duan),並會(hui)生成日(ri)誌,便(bian)於快速(su)排(pai)查(zha)出故(gu)障(zhang);
10、標(biao)配模(mo)式:礦(kuang)石(shi)模(mo)式;選配模(mo)式(shi):合(he)金(jin)分析模式、土壤分析(xi)模(mo)式。
- 上(shang)壹篇(pian):XRF-SL1便(bian)攜式(shi)三(san)元(yuan)鋰電池(chi)分析(xi)儀
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