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產品詳細頁光譜(pu)測金(jin)儀
簡(jian)要描述:光譜(pu)測金(jin)儀搭(da)載新型Si-PIN探(tan)測(ce)器(qi),能夠快速(su)、無損(sun)且(qie)精(jing)確地(di)定性(xing)定量(liang)分析(xi)黃(huang)金及其合(he)金(jin)的純(chun)度(du)與成分,確保(bao)回(hui)收(shou)過(guo)程的(de)準(zhun)確性(xing),防(fang)止回(hui)收(shou)商因誤(wu)判(pan)而遭受(shou)經(jing)濟損(sun)失(shi),提高(gao)回收(shou)過(guo)程的(de)效率和(he)盈(ying)利能力(li)。
產(chan)品型號(hao):XRF-Met1
廠商性質:生(sheng)產廠家(jia)
更(geng)新時間(jian):2025-10-29
訪(fang) 問(wen) 量(liang):585
產(chan)品介紹
壹、產品簡(jian)介(jie):
XRF-Met1型光譜(pu)測金(jin)儀是壹款專為(wei)黃金回(hui)收(shou)行(xing)業量身(shen)定制(zhi)的(de)精(jing)密檢(jian)測(ce)設(she)備(bei),該(gai)產品搭(da)載新型Si-PIN探(tan)測(ce)器(qi),能夠快速(su)、無損(sun)且(qie)精(jing)確地(di)定性(xing)定量(liang)分析(xi)黃(huang)金及其合(he)金(jin)的純(chun)度(du)與成分,確保(bao)回(hui)收(shou)過(guo)程的(de)準(zhun)確性(xing),防(fang)止回(hui)收(shou)商因誤(wu)判(pan)而遭受(shou)經(jing)濟損(sun)失(shi),提高(gao)回收(shou)過(guo)程的(de)效率和(he)盈(ying)利能力(li)。並(bing)且配(pei)備(bei)用(yong)戶友(you)好的(de)操作界(jie)面,簡(jian)化了(le)檢測流(liu)程,即(ji)使是初學者(zhe)也能快速(su)上(shang)手。其高(gao)精(jing)度的(de)檢(jian)測(ce)結(jie)果,為(wei)黃金回(hui)收(shou)商提供了(le)可靠的(de)質量保(bao)證(zheng),同時也(ye)為(wei)買(mai)賣雙方(fang)提供了(le)透明的(de)交(jiao)易依(yi)據(ju)。
二(er)、產品特點:
1.無損(sun)檢(jian)測(ce):無需(xu)對(dui)樣品做前(qian)期(qi)處(chu)理(li),簡(jian)單(dan)、方(fang)便、快捷地實(shi)現貴(gui)重金屬的無損(sun)檢(jian)測(ce)。
2.精(jing)準(zhun)快速(su):幾(ji)十(shi)秒(miao)即可(ke)獲(huo)得(de)穩(wen)定結(jie)果,貴(gui)金屬成分快速(su)鑒(jian)定,為(wei)回收(shou)黃(huang)金兌現(xian)定價(jia)交(jiao)易。
3.高(gao)精(jing)度檢(jian)測(ce):XRF技(ji)術提供可(ke)靠的(de)純(chun)度(du)和(he)成分數據(ju),可(ke)精(jing)確區分99.99和(he)99.9含(han)量(liang)的(de)金(jin)。
4.全(quan)-方(fang)位安全(quan)防(fang)護(hu)體(ti)系(xi):黃燈高(gao)頻(pin)閃(shan)爍(shuo),提醒(xing)避(bi)免(mian)誤(wu)開(kai)蓋(gai);開(kai)蓋瞬(shun)間高(gao)壓自(zi)動(dong)切(qie)斷(duan)的(de)自(zi)動(dong)斷(duan)電保(bao)護(hu)機制(zhi);高(gao)壓開(kai)啟(qi)時(shi)蓋未全(quan)部(bu)關上蜂(feng)鳴(ming)器持(chi)續報警提醒(xing)用(yong)戶;全(quan)金屬封閉機箱(xiang),杜(du)絕泄(xie)露風險。
5.樣品靈活(huo)性(xing):可輕(qing)松測量各種(zhong)形態的(de)樣品,以及樣品上的細小部(bu)件;
6.壹(yi)鍵(jian)測試按鈕(niu):“放(fang)置(zhi)樣品—關閉上蓋—壹鍵測(ce)試—查(zha)看(kan)結(jie)果",操作簡(jian)單(dan),非技(ji)術人員(yuan)也可(ke)自(zi)行(xing)檢測(ce)。
7.歷(li)史(shi)圖譜(pu)分析(xi):支持打(da)開歷(li)史(shi)圖譜(pu)和(he)對(dui)比圖譜(pu),進行(xing)不(bu)同(tong)時期(qi)樣品圖譜(pu)的分(fen)析(xi)。光譜(pu)測金(jin)儀



- 上(shang)壹篇(pian):XRF-Met1測(ce)金(jin)儀(yi)
- 下(xia)壹(yi)篇(pian):XRF-Met1貴(gui)金屬分析(xi)儀(yi)






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