妳(ni)的(de)位(wei)置(zhi):首頁 > 技術(shu)文(wen)章(zhang) > BOD分(fen)析儀(yi)器那家(jia)好?
技術(shu)文(wen)章(zhang)BOD分(fen)析儀(yi)器【霍爾德(de)電(dian)子(zi)HED-BOD】生(sheng)活(huo)汙水與工(gong)業廢(fei)水(shui)含(han)有(you)大(da)量各(ge)類有機物,當其(qi)汙染(ran)水(shui)域後(hou)這些(xie)有機物在水體(ti)中分(fen)解時(shi)需(xu)消耗(hao)大(da)量溶解(jie)氧(yang),從而(er)破壞水(shui)體(ti)中(zhong)氧(yang)的平(ping)衡,使水質(zhi)惡化(hua),因缺(que)氧(yang)造成(cheng)魚(yu)類及(ji)其他水(shui)生生(sheng)物的(de)死(si)亡(wang)。水(shui)體中所(suo)含(han)的(de)有機物成(cheng)分(fen)復雜(za),難(nan)以測定其(qi)每(mei)壹成(cheng)分(fen)。 人們(men)常(chang)常(chang)利(li)用水(shui)中(zhong)有(you)機物在壹定條件 下(xia)所(suo)消耗(hao)的氧(yang)來(lai)間接(jie)表(biao)示水體(ti)中有機物的(de)含(han)量,生化需氧(yang)量(BOD)即(ji)屬(shu)於這(zhe)類的重(zhong)要(yao)指標之(zhi)壹。同時也反(fan)映廢(fei)水(shui)中(zhong)有(you)機物的(de)可(ke)生(sheng)化(hua)降解(jie)性(xing)。
BOD分(fen)析儀(yi)器是根(gen)據(ju)國(guo)家(jia)標準(zhun)《HJ505-2009》5日培養(yang)法,模擬(ni)自(zi)然(ran)界(jie)中有(you)機物的(de)生(sheng)物降(jiang)解(jie)過(guo)程(cheng),采(cai)用簡(jian)單(dan)、安全、可(ke)靠(kao)的無(wu)汞(gong)壓(ya)差(cha)感測(ce)法測(ce)量水中BOD;全智能(neng)化設(she)計(ji),的研發工(gong)藝和(he)設(she)計(ji)制造,實(shi)驗過(guo)程(cheng)無(wu)需實(shi)驗人員值(zhi)守;適(shi)用(yong)於排(pai)汙企業、環(huan)境監(jian)測(ce)、汙水處理(li)廠、第(di)三方(fang)檢(jian)測(ce)機構、科(ke)研、高校(xiao)等領(ling)域的(de)生化需(xu)氧(yang)量測定。
產品(pin)特(te)點(dian):
1.可(ke)同(tong)時(shi)測量六個(ge)樣品(pin);
2.六個(ge)獨(du)立(li)測試(shi)終端,在檢測(ce)過程(cheng)中(zhong)可(ke)隨(sui)時(shi)加(jia)入(ru)新(xin)的測量組;
3.直(zhi)接(jie)讀取(qu)BOD濃度(du)值、無(wu)需計(ji)算;
4.無(wu)汞(gong)壓(ya)差(cha)設計(ji),精度(du)高,無(wu)需換(huan)算(suan),且(qie)保證實驗人員安全健(jian)康;
5.實(shi)驗環(huan)節無(wu)管路設計(ji),避免(mian)管路老化(hua)、漏氣(qi)等弊(bi)端;
6.測(ce)量範圍可(ke)選(xuan)擇,在水樣濃度(du)低於4000g/L時(shi),無(wu)需稀(xi)釋(shi);
7.測(ce)定儀(yi)自(zi)動(dong)記(ji)錄測量數據(ju),壹個測試(shi)周(zhou)期(qi)可(ke)選(xuan)60個(ge)采(cai)樣點(dian)、檢(jian)測數據(ju)更精確;
8.培養(yang)周(zhou)期(qi)可(ke)調(tiao)節,根(gen)據(ju)需求(qiu)可(ke)以(yi)選(xuan)擇;
9.自動完(wan)成(cheng)測(ce)量過程,無(wu)需專(zhuan)人值守;
10.大(da)尺(chi)寸(cun)液晶顯示屏,直(zhi)觀(guan)明(ming)了(le),項(xiang)目(mu)選擇方(fang)便(bian);
11.測(ce)試(shi)終端自(zi)帶大(da)容(rong)量電池,電池(chi)壽(shou)命(ming)2年以(yi)上(shang),測(ce)試(shi)過程(cheng)中不受外部環(huan)境短期斷(duan)電(dian)影響。
