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      1. <dl id="CkEcNT"></dl>

        1. 關(guan)鍵(jian)詞搜(sou)索: 食(shi)品檢測儀(yi),土壤(rang)檢測儀(yi),明(ming)渠流(liu)量(liang)計(ji),水質(zhi)檢測儀(yi),cod氨氮檢測儀(yi),余(yu)氯檢測儀(yi),紅(hong)外測油儀(yi),密(mi)封測試儀(yi),定氮儀(yi),紫(zi)外可(ke)見(jian)分光光度(du)計(ji)
          • HD-G10冠(guan)層(ceng)圖(tu)像分析儀(yi)

            冠(guan)層(ceng)圖(tu)像分析儀(yi)利(li)用(yong)魚眼鏡(jing)頭和(he)CCD圖(tu)像傳感器(qi)獲取(qu)植(zhi)物冠(guan)層(ceng)的(de)圖像(xiang),然後(hou)通過(guo)專用(yong)分析軟(ruan)件對圖像(xiang)進(jin)行(xing)處理(li)和分析,從(cong)而(er)得(de)出(chu)植(zhi)物冠(guan)層(ceng)的(de)相關(guan)指標和(he)參數(shu)。這些參數(shu)包括(kuo)葉面(mian)積指數(shu)、葉片平(ping)均(jun)傾角、天(tian)空(kong)散(san)射光透過(guo)率(lv)、不同(tong)太陽高度(du)角下(xia)的(de)植(zhi)物冠(guan)層(ceng)直(zhi)射輻(fu)射透過(guo)率(lv)以及(ji)葉面(mian)積密度(du)的(de)方(fang)位分布(bu)等。

            型號(hao):HD-G10
            更新日期(qi):2025-02-06
            面(mian)議
          • HD-G10植(zhi)物冠(guan)層(ceng)圖(tu)像分析儀(yi)

            植(zhi)物冠(guan)層(ceng)圖(tu)像分析儀(yi)基(ji)於冠(guan)層(ceng)孔(kong)隙率(lv)與冠(guan)層(ceng)結構(gou)相關(guan)的(de)原理(li),並(bing)根據光線穿(chuan)過(guo)介(jie)質減弱(ruo)的(de)比爾(er)定律(lv),在對植(zhi)物冠(guan)層(ceng)定義(yi)了(le)壹(yi)系(xi)列(lie)假設前(qian)提的(de)條件下(xia),采(cai)用(yong)半理(li)論半經驗的(de)公式(shi),通過(guo)冠(guan)層(ceng)孔(kong)隙率(lv)的(de)測定,計(ji)算出(chu)冠(guan)層(ceng)結構(gou)參數(shu)。

            型號(hao):HD-G10
            更新日期(qi):2025-02-06
            面(mian)議
          • HD-G10植(zhi)物冠(guan)層(ceng)分析系(xi)統

            植(zhi)物冠(guan)層(ceng)分析系(xi)統是壹(yi)種(zhong)的(de)測量(liang)儀(yi)器(qi),它主要用(yong)於精(jing)確(que)測量綠色植(zhi)物的(de)生理(li)指標,如(ru)葉面(mian)積指數(shu)(LAI)、葉片平(ping)均(jun)傾角等,廣泛應(ying)用(yong)於農(nong)業(ye)、園藝(yi)、林(lin)業(ye)研(yan)究(jiu)及(ji)教(jiao)學等多個(ge)領(ling)域。

            型號(hao):HD-G10
            更新日期(qi):2025-02-06
            面(mian)議
          • HD-G10植(zhi)物冠(guan)層(ceng)分析儀(yi)

            植(zhi)物冠(guan)層(ceng)分析儀(yi)為(wei)壹(yi)體化設(she)計(ji),包括(kuo)液(ye)晶顯示(shi)屏(ping)、操(cao)作按鍵(jian)、存儲(chu)SD卡(ka)及(ji)測(ce)量(liang)探(tan)桿等。儀(yi)器(qi)菜單(dan)操(cao)作簡單(dan),體積小,攜(xie)帶方(fang)便。

            型(xing)號(hao):HD-G10
            更新日期(qi):2025-02-06
            面(mian)議
          • HD-G20植(zhi)物冠(guan)層(ceng)分析儀(yi)

            植(zhi)物冠(guan)層(ceng)分析儀(yi)采(cai)用(yong)的(de)是對冠(guan)層(ceng)下(xia)天(tian)穹半球圖像(xiang)分析測(ce)量(liang)冠(guan)層(ceng)孔(kong)隙率(lv)的(de)方(fang)法,該(gai)方(fang)法是各類(lei)方(fang)法中(zhong)準(zhun)確(que)和省(sheng)力(li)、省(sheng)時(shi)、快捷(jie)方(fang)便的(de)方(fang)法。

            型(xing)號(hao):HD-G20
            更新日期(qi):2025-02-07
            面(mian)議
          • HD-G20植(zhi)物冠(guan)層(ceng)分析系(xi)統 植(zhi)物冠(guan)層(ceng)分析儀(yi)

            植(zhi)物冠(guan)層(ceng)分析系(xi)統采用(yong)了冠(guan)層(ceng)孔(kong)隙率(lv)與冠(guan)層(ceng)結構(gou)相關(guan)的(de)原理(li)。它是根據光線穿(chuan)過(guo)介(jie)質減弱(ruo)的(de)比爾(er)定律(lv),在對植(zhi)物冠(guan)層(ceng)定義(yi)了(le)壹(yi)系(xi)列(lie)假設前(qian)提的(de)條件下(xia),采(cai)用(yong)半理(li)論半經驗的(de)公式(shi),通過(guo)冠(guan)層(ceng)孔(kong)隙率(lv)的(de)測定,計(ji)算出(chu)冠(guan)層(ceng)結構(gou)參數(shu)。

            型號(hao):HD-G20
            更新日期(qi):2025-02-07
            面(mian)議
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