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產(chan)品(pin)詳(xiang)細(xi)頁高頻(pin)介(jie)電常數測(ce)量儀
簡(jian)要描述:高頻(pin)介(jie)電常數測(ce)量儀是各種金(jin)屬氧(yang)化物(wu),板材(cai),瓷(ci)器(陶器(qi)),雲母(mu),玻璃(li),塑料等(deng)物(wu)質的壹項重(zhong)要的物(wu)理性質。通過測(ce)定(ding)可(ke)進壹(yi)步了(le)解(jie)影(ying)響(xiang)介(jie)質損耗(hao)和(he)介電常數的各種因(yin)素(su),為(wei)提(ti)高材(cai)料(liao)的性能(neng)提(ti)供依據(ju)。
產(chan)品(pin)型號:HD-JD1
廠商性質:生產廠家
更(geng)新(xin)時(shi)間:2025-06-18
訪 問(wen) 量:669
產品(pin)介紹(shao)

高頻(pin)介(jie)電常數測(ce)量儀是各種金(jin)屬氧(yang)化物(wu),板材(cai),瓷(ci)器(陶器(qi)),雲母(mu),玻璃(li),塑料等(deng)物(wu)質的壹項重(zhong)要的物(wu)理性質。通過測(ce)定(ding)可(ke)進壹(yi)步了(le)解(jie)影(ying)響(xiang)介(jie)質損耗(hao)和(he)介電常數的各種因(yin)素(su),為(wei)提(ti)高材(cai)料(liao)的性能(neng)提(ti)供依據(ju)。高頻(pin)介(jie)電常數測(ce)量儀用(yong)於(yu)科(ke)研機關、學(xue)校、工(gong)廠(chang)等(deng)單位(wei)對(dui)無(wu)機金(jin)屬新材(cai)料(liao)性能(neng)的應用(yong)研究。
參考標(biao)準(zhun)
GB/T 1409-2006測(ce)量電氣絕緣材料(liao)在工(gong)頻(pin)、音(yin)頻、高頻(pin)(包括(kuo)米(mi)波波(bo)長(chang)存內(nei))下電容率(lv)和(he)介(jie)質(zhi)損耗(hao)因(yin)數的推薦方法;
GB/T 1693-2007硫化橡膠(jiao)介電常數和(he)介質(zhi)損耗(hao)角(jiao)正切值的測(ce)定(ding)方法;
ASTM-D150-介電(dian)常數測(ce)試(shi)方法;
GB9622.9-88/SJT 11043-1996電子(zi)玻璃(li)高頻(pin)介(jie)質損耗(hao)和(he)介電常數的測(ce)試(shi)方法。

主(zhu)要功(gong)能(neng)
介(jie)質損耗(hao)因(yin)數(tanδ)測(ce)量:精確測(ce)量絕緣(yuan)材料(liao)的介質(zhi)損耗(hao)因(yin)數,評(ping)估絕(jue)緣(yuan)性能(neng)。
電(dian)容量(Cx)測(ce)量:測(ce)量絕緣(yuan)材料(liao)的電容量,判(pan)斷其電(dian)容特性。
抗幹(gan)擾(rao)能(neng)力(li)強:采(cai)用(yong)變(bian)頻(pin)技(ji)術或數(shu)字信(xin)號(hao)處(chu)理(li)技(ji)術,有效(xiao)抑制工(gong)頻(pin)幹(gan)擾(rao)和其(qi)他(ta)電(dian)磁幹(gan)擾(rao),確保測(ce)量結(jie)果(guo)的準確性。
多種測(ce)試(shi)模(mo)式(shi):支(zhi)持正(zheng)接(jie)法、反(fan)接法、自(zi)激(ji)法等多種測(ce)試(shi)模(mo)式(shi),適用(yong)於(yu)不(bu)同(tong)類(lei)型的被試(shi)品(pin)。
數據(ju)存儲(chu)與(yu)分(fen)析(xi):內(nei)置存儲(chu)功(gong)能(neng),可(ke)保(bao)存測(ce)試(shi)數據(ju),支(zhi)持數(shu)據(ju)導出和(he)分(fen)析(xi)。
安全(quan)保(bao)護功(gong)能(neng):具(ju)備(bei)過壓(ya)、過(guo)流、短(duan)路(lu)等(deng)保(bao)護功(gong)能(neng),確保操(cao)作(zuo)安(an)全(quan)。
技(ji)術特點
高精度測(ce)量:采(cai)用(yong)高精度測(ce)量電路(lu)和算(suan)法,確保tanδ和(he)Cx的測(ce)量精度。
寬(kuan)測(ce)量範(fan)圍(wei):適(shi)用(yong)於(yu)不(bu)同(tong)電壓(ya)等(deng)級(ji)和電(dian)容量的被試(shi)品(pin)。
便(bian)攜(xie)式(shi)設計:體(ti)積(ji)小、重(zhong)量輕,便(bian)於(yu)現場測(ce)試(shi)。
操作(zuo)簡(jian)便(bian):大(da)屏(ping)幕(mu)液(ye)晶顯示(shi),中(zhong)文菜單操作(zuo),界(jie)面友好。
自(zi)動(dong)化程度高:壹(yi)鍵(jian)式(shi)操作(zuo),自(zi)動(dong)完(wan)成(cheng)測(ce)量、計算(suan)和結(jie)果(guo)顯示(shi)。








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