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        1. 關(guan)鍵詞搜索: 食品檢(jian)測儀,土壤(rang)檢測儀,明渠流(liu)量計(ji),水質檢(jian)測儀,cod氨(an)氮(dan)檢(jian)測儀,余氯(lv)檢(jian)測儀,紅外(wai)測油儀,密(mi)封測試(shi)儀,定氮(dan)儀,紫外(wai)可(ke)見(jian)分光(guang)光(guang)度計(ji)

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          產品詳(xiang)細頁

          介(jie)質損(sun)耗(hao)測試(shi)儀

          簡要(yao)描述(shu):介(jie)質損(sun)耗(hao)測試(shi)儀是各(ge)種(zhong)金屬氧化物(wu),板(ban)材,瓷器(陶器(qi)),雲母(mu),玻(bo)璃,塑(su)料(liao)等物(wu)質的(de)壹(yi)項(xiang)重要(yao)的(de)物(wu)理性質。通(tong)過(guo)測定可(ke)進壹(yi)步了解影響介(jie)質損(sun)耗(hao)和介(jie)電(dian)常數(shu)的各(ge)種(zhong)因(yin)素,為提高(gao)材料(liao)的(de)性(xing)能(neng)提供依(yi)據。

          • 產(chan)品型(xing)號(hao):HD-JD1
          • 廠商(shang)性質:生(sheng)產廠家(jia)
          • 更(geng)新(xin)時間:2025-06-18
          • 訪(fang)  問(wen)  量:593

          產(chan)品介(jie)紹(shao)

          介(jie)質損(sun)耗(hao)測試(shi)儀

          介(jie)質損(sun)耗(hao)測試(shi)儀是各(ge)種(zhong)金屬氧化物(wu),板(ban)材,瓷器(陶器(qi)),雲母(mu),玻(bo)璃,塑(su)料(liao)等物(wu)質的(de)壹(yi)項(xiang)重要(yao)的(de)物(wu)理性質。通(tong)過(guo)測定可(ke)進壹(yi)步了解影響介(jie)質損(sun)耗(hao)和介(jie)電(dian)常數(shu)的各(ge)種(zhong)因(yin)素,為提高(gao)材料(liao)的(de)性(xing)能(neng)提供依(yi)據。用(yong)於(yu)科(ke)研(yan)機關(guan)、學(xue)校(xiao)、工廠等單位對(dui)無機金屬新(xin)材料(liao)性(xing)能(neng)的(de)應(ying)用(yong)研(yan)究(jiu)。


          介(jie)質損(sun)耗(hao)測試(shi)儀的參(can)考標準
          GB/T 1409-2006測量電(dian)氣絕(jue)緣材料(liao)在(zai)工頻(pin)、音(yin)頻(pin)、高(gao)頻(pin)(包(bao)括(kuo)米(mi)波波長存(cun)內(nei))下(xia)電(dian)容(rong)率(lv)和介(jie)質損(sun)耗(hao)因數(shu)的推(tui)薦(jian)方(fang)法;
          GB/T 1693-2007硫化(hua)橡膠(jiao)介(jie)電(dian)常數(shu)和介(jie)質損(sun)耗(hao)角正切(qie)值(zhi)的測定方(fang)法;
          ASTM-D150-介(jie)電(dian)常數(shu)測試(shi)方(fang)法;
          GB9622.9-88/SJT 11043-1996電(dian)子玻(bo)璃高(gao)頻(pin)介(jie)質損(sun)耗(hao)和介(jie)電(dian)常數(shu)的測試(shi)方(fang)法。

          介(jie)質損(sun)耗(hao)測試(shi)儀

          主(zhu)要(yao)功(gong)能(neng)
          介(jie)質損(sun)耗(hao)因數(shu)(tanδ)測量:精(jing)確(que)測量絕(jue)緣材料(liao)的(de)介(jie)質損(sun)耗(hao)因數(shu),評估絕緣性能(neng)。
          電(dian)容(rong)量(Cx)測量:測量絕(jue)緣材料(liao)的(de)電(dian)容(rong)量,判斷其(qi)電(dian)容(rong)特性。
          抗(kang)幹(gan)擾能(neng)力(li)強(qiang):采用(yong)變(bian)頻(pin)技(ji)術(shu)或數(shu)字(zi)信號(hao)處(chu)理技(ji)術(shu),有效抑制(zhi)工頻(pin)幹擾(rao)和(he)其(qi)他電(dian)磁(ci)幹擾(rao),確保測量結(jie)果(guo)的準確性(xing)。
          多(duo)種(zhong)測試(shi)模(mo)式(shi):支(zhi)持正接法、反(fan)接法、自激(ji)法等多種(zhong)測試(shi)模(mo)式(shi),適(shi)用(yong)於(yu)不同類(lei)型(xing)的被試(shi)品。
          數(shu)據存(cun)儲與(yu)分(fen)析(xi):內(nei)置(zhi)存(cun)儲功(gong)能(neng),可(ke)保存(cun)測試(shi)數(shu)據(ju),支(zhi)持數(shu)據導出和分(fen)析。
          安(an)全(quan)保護功(gong)能(neng):具(ju)備(bei)過(guo)壓(ya)、過(guo)流(liu)、短(duan)路等保護功(gong)能(neng),確(que)保操(cao)作安(an)全(quan)。

          技(ji)術(shu)特點(dian)
          高(gao)精(jing)度測量:采用(yong)高(gao)精(jing)度測量電(dian)路和(he)算(suan)法,確(que)保tanδ和(he)Cx的測量精(jing)度。
          寬測量範圍(wei):適用於(yu)不同電(dian)壓等級和(he)電(dian)容(rong)量的(de)被試(shi)品。
          便(bian)攜(xie)式(shi)設(she)計(ji):體(ti)積小(xiao)、重(zhong)量輕,便(bian)於(yu)現(xian)場(chang)測試(shi)。
          操(cao)作簡便(bian):大(da)屏幕液晶(jing)顯示,中(zhong)文(wen)菜(cai)單操(cao)作,界面(mian)友好(hao)。
          自動(dong)化程(cheng)度高(gao):壹(yi)鍵式(shi)操(cao)作,自動(dong)完(wan)成(cheng)測量、計(ji)算(suan)和結(jie)果(guo)顯示。

          介(jie)質損(sun)耗(hao)測試(shi)儀

          技(ji)術(shu)參(can)數

          1信號(hao)源(yuan)DDS數(shu)字(zi)合成(cheng) 10KHZ-70MHz
          2采樣精(jing)度11BIT
          3測量範圍(wei)1-1000自動(dong)/手動量程(cheng)
          4分辨(bian)率(lv)0.1
          5測量工作誤差(cha)<5%
          6電(dian)感測量範圍(wei)分辨率(lv)0.1nH
          7電(dian)感測量誤差(cha)<3%
          8調諧電(dian)容(rong)主(zhu)電(dian)容(rong)30-540pF
          9電(dian)容(rong)直(zhi)接測量範圍(wei)1pF~2.5uF
          10調諧電(dian)容(rong)誤差(cha)±1 pF或<1% 0.1pF
          11諧振點(dian)搜索(suo)自動(dong)掃描
          12合格(ge)預置範圍(wei)5-1000聲光(guang)提示
          13LCD顯示參(can)數F,L,C,Q,Lt,Ct等
          14介(jie)質損(sun)耗(hao)系(xi)數精(jing)度萬分(fen)之壹(yi)
          15介(jie)電(dian)常數(shu)精(jing)度千分(fen)之壹(yi)
          16材料(liao)測試(shi)厚(hou)度0.1mm-10mm
          17技(ji)術(shu)儀器自動(dong)扣(kou)除殘(can)余電(dian)感和(he)測試(shi)引(yin)線電(dian)感。大(da)幅提高(gao)測量精(jing)度。大(da)電(dian)容(rong)值(zhi)直(zhi)接測量顯示。數(shu)顯微(wei)測量裝置(zhi),直接讀(du)值(zhi)。


          介(jie)質損(sun)耗(hao)測試(shi)儀


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