葉面(mian)積(ji)指數(shu)測(ce)量(liang)儀利(li)用(yong)圖像法(fa)測(ce)量(liang)冠層(ceng)可(ke)以(yi)主(zhu)動(dong)避開(kai)不符合計(ji)算該(gai)冠 層(ceng)結(jie)構(gou)參數(shu)的冠層(ceng)空隙部分，也(ye)可以(yi)躲開(kai)不符合測(ce)量(liang)計(ji)算的障礙物。

型號(hao)：HD-G20

更新日(ri)期：2025-02-07

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葉面(mian)積(ji)指數(shu)測(ce)定(ding)儀通過專(zhuan)用(yong)分析軟件，獲得植物(wu)冠層(ceng)的相(xiang)關(guan)指(zhi)標(biao)和(he)參(can)數。利(li)用(yong)魚眼鏡(jing)頭成像測(ce)量(liang)植物冠層(ceng)數(shu)據(ju)，只(zhi)操(cao)作壹次即(ji)可，簡化了傳統(tong)測(ce)量(liang)方(fang)法要(yao)壹天(tian)定(ding)點(dian)多次(ci)測(ce)量(liang)的繁復工(gong)作

型號(hao)：HD-G20

更新日(ri)期：2025-02-07

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植(zhi)物(wu)冠層(ceng)圖(tu)像(xiang)分(fen)析儀用(yong)於各種高度(du)植(zhi)物(wu)冠層(ceng)的研究，利(li)用(yong)魚眼鏡(jing)頭和(he)CCD圖(tu)像傳(chuan)感(gan)器獲取植(zhi)物(wu)冠層(ceng)圖(tu)像(xiang)

型(xing)號(hao)：HD-G20

更新日(ri)期：2025-02-07

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植(zhi)物(wu)根(gen)系掃描(miao)系統(tong)掃描(miao)時，掃面(mian)板(ban)下的光源(yuan)和(he)上(shang)蓋(gai)板(ban)中的光源(yuan)同時(shi)掃過高透(tou)明度(du)根(gen)盤(pan)中的根系(xi)樣(yang)品(pin)，這(zhe)樣(yang)可以避免根(gen)系掃描(miao)時容易產生(sheng)的陰影和(he)不(bu)均(jun)勻(yun)等(deng)現(xian)象的影響，有效(xiao)地(di)保(bao)證(zheng)了獲取的圖像(xiang)質量(liang)。

型(xing)號(hao)：HD-WinRHIZO

更新日(ri)期：2025-02-07

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根(gen)系(xi)分(fen)析系統(tong)在(zai)掃描(miao)面(mian)板(ban)下方(fang)和(he)上(shang)蓋(gai)中安(an)裝有專(zhuan)門(men)的雙光(guang)源照(zhao)明(ming)系(xi)統(tong)，並(bing)且在(zai)掃面(mian)板(ban)上(shang)預留(liu)了雙光(guang)源校(xiao)準(zhun)區(qu)域。

型號(hao)：HD-WinRHIZO

更新日(ri)期：2025-02-07

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植(zhi)物(wu)根(gen)系分析系統(tong)利(li)用(yong)高質(zhi)量(liang)圖(tu)形掃描(miao)儀獲取高分(fen)辨(bian)率(lv)植物(wu)根(gen)系(xi)彩色圖(tu)像或(huo)黑(hei)白圖(tu)像，廣(guang)泛運用(yong)於根系(xi)形態和(he)構(gou)造(zao)研究。

型(xing)號(hao)：HD-WinRHIZO

更新日(ri)期：2025-02-07

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