稻米(mi)外觀(guan)品(pin)質檢(jian)測(ce)設備

產(chan)品(pin)介紹(shao)

稻米(mi)外觀(guan)品(pin)質檢(jian)測(ce)設備在(zai)質檢環節也(ye)具有(you)重要作(zuo)用。質檢是(shi)確(que)保大米(mi)品(pin)質安(an)全的關(guan)鍵環節，它(ta)提(ti)供了(le)可靠(kao)、準確的檢(jian)測(ce)手段。質檢(jian)人員可(ke)以(yi)利(li)用儀(yi)器(qi)對大米(mi)進行批量檢(jian)測(ce)，快速(su)判斷(duan)大米(mi)是(shi)否(fou)符(fu)合相(xiang)關(guan)標(biao)準和規定(ding)。這(zhe)不僅(jin)可以(yi)提(ti)高質檢(jian)效(xiao)率(lv)，還可以(yi)降低人為因(yin)素(su)導(dao)致的誤(wu)差，確保質檢結果(guo)的準(zhun)確(que)性和公正(zheng)性。

壹、產(chan)品(pin)介紹(shao)：

稻米(mi)外觀(guan)品(pin)質檢(jian)測(ce)設備可(ke)自動測量每(mei)粒的面(mian)積(ji)、長(chang)度(du)、寬(kuan)度(du)、長(chang)寬(kuan)比(bi)、直徑(jing)、圓(yuan)度(du)。可用於各種(zhong)類大米(mi)（精米(mi)、糙(cao)米(mi)、糯(nuo)米(mi)等）各項外觀(guan)品(pin)質指(zhi)標(biao)的精準自(zi)動檢(jian)測，可進行多(duo)參(can)數、批量化(hua)的自(zi)動(dong)分(fen)析。

二(er)、主要技術指(zhi)標(biao)：

1、★配光學(xue)分(fen)辨率(lv)4800×9600、A4加(jia)長(chang)的雙(shuang)光源(yuan)彩色(se)掃(sao)描(miao)儀(yi)來成(cheng)像(xiang)。透掃(sao)幅面(mian)30 cm×20 cm，最(zui)小像(xiang)素(su)尺寸(cun)0.0053mm ×0.0026 mm。

2、★可自動(dong)壹次性測(ce)量分(fen)析1粒及(ji)以(yi)上(shang)大米(mi)樣(yang)品(pin)的：堊(e)白(bai)度(du)/率(lv)、碎米(mi)率(lv)及小碎(sui)米(mi)率(lv)、整精米(mi)數量、整(zheng)精米(mi)率(lv)、可直接(jie)檢(jian)測(ce)大米(mi)透明度的國標(biao)等級(ji)、黃粒米(mi)、大米(mi)顏(yan)色黃度(du)指(zhi)數和大米(mi)白度(du)測(ce)定(ding)、雜質(zhi)量、異(yi)品(pin)種(zhong)粒、不完(wan)善粒（未(wei)成熟粒）、裂紋(wen)率(lv)。還可測(ce)量糯(nuo)米(mi)的陰米(mi)率(lv)、病(bing)斑或(huo)黃變(bian)率(lv)。糙(cao)米(mi)胚芽(ya)率(lv)。

3、自動測(ce)量每(mei)粒的面(mian)積(ji)、長(chang)度(du)、寬(kuan)度(du)、長(chang)寬(kuan)比(bi)、直徑(jing)（長(chang)度(du)測(ce)量誤(wu)差≤±0.05mm，長(chang)寬(kuan)比(bi)測(ce)量誤(wu)差≤±0.05，重現性(xing)誤(wu)差≤±0.02；整精米(mi)率(lv)、碎米(mi)率(lv)指(zhi)標(biao)測量誤(wu)差≤±1.0%、重現性(xing)誤(wu)差≤±0.25%）、圓度(du)。

4、★可(ke)自動壹次性測(ce)量分(fen)析1粒及(ji)以(yi)上(shang)黑(hei)米(mi)樣(yang)品(pin)的：黑(hei)色度(du)、黑(hei)米(mi)率(lv)、整黑(hei)米(mi)率(lv)、碎米(mi)率(lv)及小碎(sui)米(mi)率(lv)，符合NY/T 832-2004標(biao)準中(zhong)相(xiang)關(guan)這(zhe)幾(ji)項的檢(jian)測(ce)指(zhi)標(biao)。

5、可大批量自(zi)動(dong)分(fen)析處理(li)與輸(shu)出(chu)結果(guo)。與國標(biao)GB/T1350稻谷(gu)、GB/T17891優(you)質(zhi)稻谷(gu)或(huo)GB1354-2018大米(mi)、農業部新標(biao)準【大米(mi)】NY/T2334-2013、大米(mi)粒型(xing)分(fen)類判定(ding)LS/T6116-2016、糧食(shi)行業標(biao)準 大米(mi)LS/T 3247—2017、GB/T 35881-2018糧油(you)檢(jian)驗 稻谷(gu)黃粒米(mi)含(han)量測(ce)定(ding)圖像(xiang)分(fen)析法(fa)等標(biao)準相(xiang)對應，檢(jian)測(ce)各項指(zhi)標(biao)的質(zhi)量比(bi)和粒數比(bi)。

6、★具有(you)自(zi)動(dong)學(xue)習(xi)與識別特性(xing)，可自(zi)動(dong)分(fen)割粘(zhan)連(lian)的大米(mi)、種(zhong)粒，可(ke)做自(zi)動分(fen)類分(fen)析。

7、各(ge)分(fen)析圖(tu)像(xiang)、分(fen)布圖(tu)、結(jie)果(guo)數據可(ke)保存，分(fen)析結(jie)果(guo)輸(shu)出(chu)至Excel表(biao)，可輸(shu)出(chu)分(fen)析標(biao)記(ji)圖，以(yi)及(ji)按(an)寬(kuan)度(du)、長(chang)度(du)、面(mian)積(ji)等輸(shu)出(chu)的排(pai)列(lie)圖和測量圖(tu)。

8、具有(you)樣(yang)本(ben)條碼(ma)、電(dian)子天平RS232數據軟(ruan)件(jian)接(jie)口(kou)。可兼測的種(zhong)粒範(fan)圍0.25-20mm，自動數粒精度≥99%，交(jiao)互修正後準(zhun)確(que)率(lv)達(da)100%。

9、儀(yi)器(qi)有(you)雲(yun)平(ping)臺支(zhi)持，可(ke)將(jiang)分(fen)析數據保存到(dao)雲(yun)端(duan)隨時隨(sui)地(di)查(zha)看。

10、判定(ding)方(fang)式： 通(tong)用計算機(ji)專用處理(li)軟件(jian)

12、可(ke)大批量自(zi)動(dong)分(fen)析處理(li)與輸(shu)出(chu)結果(guo)。

13、具有(you)屏幕(mu)錄(lu)制(zhi)功(gong)能，可(ke)錄(lu)制保存實(shi)驗過(guo)程(cheng)。

14、環境條件(jian)：溫(wen)度(du)10~30℃，相(xiang)對濕(shi)度(du)≤85%，防止強光照射(she)。儀(yi)器(qi)應(ying)放(fang)在(zai)平(ping)穩工(gong)作臺上(shang)，周(zhou)圍無(wu)強烈的機(ji)械(xie)振(zhen)動(dong)和電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)；電(dian)源(yuan)要求(qiu)220V±10%，50Hz。

三(san)、產(chan)品(pin)配置(zhi)：

1、大米(mi)外觀(guan)品(pin)質檢(jian)測(ce)分(fen)析儀(yi)系(xi)統(tong)軟件(jian) U 盤及(ji)軟(ruan)件(jian)鎖(suo) 1套(tao)

2、光學(xue)分(fen)辨率(lv) 4800X9600、A4 加(jia)長(chang)的雙(shuang)光源(yuan)彩色(se)掃(sao)描(miao)儀(yi) 1 臺

3、鋪(pu)米(mi)器(qi)4個（中(zhong)短(duan)粒、長(chang)粒、超(chao)長(chang)粒、空(kong)盤）

4、筆(bi)記(ji)本電(dian)腦1臺